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開放型光學尺

開放型光學尺由光學尺或光學尺帶以及掃描頭所組成。他們的光電掃描方法是免接觸且 無磨損的，可檢測 寬度僅為微米的刻度線 並產生信號周期非常短的輸出信號。 -

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LIC 4100 系列

  • 絕對式光學尺
  • 高精度和長量測長度
  • 不同的安裝選項
  • 玻璃、鋼帶或玻璃陶瓷上的刻度 
  • 具有功能安全的版本
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LIC 4100 V 系列

  • 絕對式光學尺
  • 用於高真空應用
  • 高精度和長量測長度
  • 不同的安裝選項
  • 玻璃、鋼帶或玻璃陶瓷上的刻度
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LIC 3100 系列

  • 絕對式光學尺
  • 高精度和長 量測長度
  • 許多安裝選項
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LIC 2100 系列

  • 絕對式光學尺
  • 寬安裝公差
  • 用於簡單應用
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LIP 200 系列

  • 增量式光學尺
  • 精確度非常高
  • 極小的信號週期 
  • 高移動速度
  • 較大量測長度
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LIP 6000 系列

  • 增量式光學尺
  • 精確度非常高
  • 高移動速度
  • 較大量測長度
  • 用於緊湊的安裝空間
  • 極限開關與歸零原點
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全新

LIP 6000 Dplus 系列

  • 增量式光學尺
  • 對角線刻度 ±45°
  • 高移動速度
  • 長量測長度
  • 介面：EnDat 3
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LIF 400 系列

  • 增量式光學尺
  • 精確度非常高
  • 方便的背膠黏著固定 光學尺 
  • 極限開關與歸零原點
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LIF 400 V 系列

  • 增量式光學尺
  • 用於高真空應用 
  • 精度非常高 
  • 極限開關與歸零原點
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LIDA 400 系列

  • 增量式光學尺
  • 高精度和長量測長度
  • 不同的安裝選項
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LIDA 200 系列

  • 增量式光學尺
  • 寬安裝公差
  • 用於簡單應用
  • 具備訊號顯示燈號，易於安裝
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PP 281二維光學尺

  • PP 281增量式二維光學尺
  • 大面積蝕刻光柵結構
  • 共平面高精度位置量測
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